基于氣相離子在弱電場中的遷移率來檢測識別不同種類物質的一種常壓分析化學方法，又被成為常壓質譜。[1]  離子遷移譜（ion mobility spectrometry，IMS）技術是從20世紀60年代末發展起來的一門檢測技術，它以離子遷移時間的差別來進行離子的分離定性，借助類似于色譜保留時間的概念，起初被稱為等離子體色譜。IMS在環境氣壓條件下進行工作.。特別適合于一些揮發性有機化合物的痕量探測，如毒品、爆炸物、化學戰劑和大氣污染物等。 IMS系統的核心部分是遷移管，遷移管分為電離區和遷移區兩部分，中間以離子門分隔開。被測樣品被加熱氣化后，由載氣帶入電離區，載氣分子和樣品分子在離子源放射性Ni的作用下發生一系列的電離反應和離子－分子反應，形成各種產物離子。在電場的作用下，這些產物離子通過周期性開啟的離子門進入遷移區。一方面從電場獲得能量作定向漂移, 另一方面與逆向流動的中性遷移氣體分子不斷碰撞而損失能量，由于這些產物離子的質量, 所帶電荷, 碰撞截面和空間構型各不相同, 故在電場中各自遷移速率不同,使得不同的離子到達探測器上的時間不同而得到分離。