工業用顆粒度儀采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質，根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數據。工業用顆粒度儀是一種高性能的的顆粒度儀。系統包括激光粒度儀、自動干粉進樣器、干粉分散器、靜音空壓機、空氣過濾器、樣品收集器等部分組成。工業用顆粒度儀在干法狀態下，樣品通過自動干粉進樣器均勻輸送到高壓氣流中，在高壓氣流的帶動下連續高速噴射到分散器中，在到達分散器出口處樣品已經被充分分散，穿過工業用顆粒度儀的激光束之后樣品進入收集器中，同時電腦立刻顯示出粒度分布信息。 工業用顆粒度儀儀器特點： ●測試范圍寬 由于工業用顆粒度儀采用了大尺寸光電探測陣列(70個通道)、側向輔助光電探測陣列(12個通道)及其它相應技術，使單透鏡測試范圍達到0.1---450微米；并且由于本儀器使用過程中無須更換鏡頭及調整光學系統，提高了系統的穩定性，簡化了操作過程。 ●重復性好 工業用顆粒度儀采用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測試過程不受溫度變化、介質黏度,試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響,只要將待測樣品均勻地展現于激光束中，即可獲得準確的測試結果。而且區別于沉降法,由于不需要沉降過程，因此在一次測試中可以多次采樣(5-20次任意設定)，有效的濾除了由于電噪聲，樣品分布不均等因素造成的影響，使儀器的測試重復性變好。 ●采用半導體激光發生器 工業用顆粒度儀具有光參數穩定、效率高、壽命長、不怕振動等一系列優點，克服了傳統氣體激光器由于自然漏氣，需定期更換的缺點。 ●自動化程度高操作簡單 工業用顆粒度儀采用微機進行實時控制，自動完成數據采集、分析處理、結果保存、打印等功能,操作簡單,自動化程度高。 工業用顆粒度儀顆粒測試的數據計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計算前假設顆粒群符合某種分布規律，再根據該規律反演出粒度分布。這種運算相對比較簡單，但由于事先的假設與實際情況之間不可避免會存在偏差，從而有約束擬合計算出的測試數據不能真實反映顆粒群的實際粒度分布。 工業用顆粒度儀無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設，通過光強直接準確地計算出顆粒群的粒度分布。這種計算前提是合理的探測器設計和粒度分級，給設備本身提出很高的要求。工業用顆粒度儀采用最優的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級，從而能夠準確地測量顆粒群的粒度分布。 良好的屏蔽處理使超聲分散和樣品測試可同時進行，即使具有超強團聚性的顆粒也能夠充分分散以獲得真實的粒度分布數據。